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美國TA差式掃描量熱儀是一種在程序溫度下測量材料和基準之間功率差的溫度依賴性的技術。當樣品和基準之間的溫差在加熱過程中由于熱效應而出現時，通過差分熱放大電路和差分熱補償放大器改變流入補償電熱的電流，補償放大器立即增加樣品一側的電流。量熱儀是一種用于測量突發性的化學或物理反應過程發熱量的儀器。量熱儀的結構一般有外筒、內筒、溫度計和攪拌器四部分。量熱儀的外筒是用于保溫，內筒是用于充當反應容器。量熱儀的溫度計是用來測量反應溫度的變化，而攪拌器則用來使反應物混合均勻，以提高反應的*性...

場發射掃描電子顯微鏡正是根據上述不同信息產生的機理，采用不同的信息檢測器，使選擇檢測得以實現。如對二次電子、背散射電子的采集，可得到有關物質微觀形貌的信息；對x射線的采集，可得到物質化學成分的信息。另一個重要特點是景深大，透射電鏡是光學顯微鏡的10倍由于圖像景深較大，獲得的掃描電子圖像具有三維感強、形狀三維等特點，比其他顯微鏡能提供更多的信息，對用戶有很大的價值，其所表明斷裂形態從深層和高景深的角度反映了材料斷裂的性質，在教學科研和生產中具有重要作用，是材料斷裂原因分析、事故...

掃描電鏡全稱掃描電子顯微鏡是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。掃描電鏡可以分析纖維、紙張、鋼鐵質量，觀察礦石結構、檢測催化劑微觀結構、觀看癌細胞與正常細胞差異等。掃描電鏡是在加速高壓作用下將電子槍發射的電子經過多級電磁透鏡匯集成細小(直徑一般為1~5nm)的電子束(相應束流為10-11~10-12A)。在末級透鏡上方掃描線圈的作用下，使電子束在試樣表面做光柵掃描(行掃+幀掃)。入射電子與試樣相互作用會產生二次電子...

鎢燈絲掃描電鏡是對樣品表面形態進行測試的一種大型儀器。當具有一定能量的入射電子束轟擊樣品表面時，電子與元素的原子核及外層電子發生單次或多次彈性與非彈性碰撞，一些電子被反射出樣品表面，而其余的電子則滲入樣品中，逐漸失去其動能，最后停止運動，并被樣品吸收。在此過程中有99%以上的入射電子能量轉變成樣品熱能，而其余約1%的入射電子能量從樣品中激發出各種信號。這些信號主要包括二次電子、背散射電子、吸收電子、透射電子、俄歇電子、電子電動勢、陰極發光、X射線等。鎢燈絲掃描電鏡就是通過這些...

差示掃描量熱儀，測量的是與材料內部熱轉變相關的溫度、熱流的關系，應用范圍非常廣，特別是材料的研發、性能檢測與質量控制。材料的特性，如玻璃化轉變溫度、冷結晶、相轉變、熔融、結晶、產品穩定性、固化/交聯、氧化誘導期等，都是差示掃描量熱儀的研究領域。應用的領域有以下幾方面：（1）成分分析無機物、有機物、藥物和高聚物的鑒別以及它們的相圖研究。（2）穩定性測定物質的熱穩定性、抗氧化性能的測定等。（3）化學反應研究固體物質與氣體反應的研究、催化劑性能測定、反應動力學研究、反應熱測定、相變...

X射線熒光光譜儀由激發光源、單色器、狹縫、樣品室、信號檢測放大系統和信號讀出、記錄系統組成。激發光源提供用于激發樣品的入射光的來源。單色器用來分離出所需要的單色光。信號檢測放大系統用來把熒光信號轉化為電信號，結合放大系統上的讀出裝置可顯示或記錄熒光信號。X射線熒光光譜儀由光源氙弧燈發出的光通過切光器使其變成斷續之光以及激發光單色器變成單色光后，此光即為熒光物質的激發光，被測的熒光物質在激發光照射下所發出的熒光，經過單色器變成單色熒光后照射于測樣品用的光電倍增管上，由其所發生的...

場發射掃描電鏡（FESEM）是電子顯微鏡的一種，其原理是利用二次電子或背散射電子成像，對樣品表面放大一定的倍數進行形貌觀察，同時利用電子激發出樣品表面的特征X射線來對微區的成分進行定性定量分析。場發射掃描電鏡的分類：1、冷場發射掃描電鏡冷場發射掃描電鏡優點是電子束直徑小，亮度高，因此影像分辨率高。能量散布小，故能改善在低電壓操作的效果。為避免針尖被外來氣體吸附，而降低場發射電流，并使發射電流不穩定，冷場發射式電子槍必需在10^-10torr的真空度下操作，雖然如此，還是需要定...

鎢燈絲掃描電子顯微鏡正是根據上述不同信息產生的機理，采用不同的信息檢測器，使選擇檢測得以實現。如對二次電子、背散射電子的采集，可得到有關物質微觀形貌的信息;對x射線的采集，可得到物質化學成分的信息。掃描電鏡的另一個重要特點是景深大，圖像立體掃描電鏡的透射電鏡是光學顯微鏡的10倍由于圖像景深較大，獲得的掃描電子圖像具有三維感強、形狀三維等特點，比其他顯微鏡能提供更多的信息，對用戶有很大的價值掃描電鏡所表明斷裂形態從深層和高景深的角度反映了材料斷裂的性質，在教學科研和生產中具有不...